日本理學(RIGAKU)在設計、製造X射線量測工具之領域中,為全球之先驅和領航者。多年來協助解決半導體製造之難題,在半導體工業中擁有超過25年之經驗。所研發之產品橫跨晶圓廠製程控制計量到研發薄膜和分析材料表徵。

理學所生產之XRF、TXRF和MFM計量工具,可用於分析、評估薄膜之厚度、組成、粗糙度、密度、孔隙、晶體結構和表面汙染等。

透過專業的服務,理學提供給客戶最佳之解決方案。

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分類:Combo Tool

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